數(shù)字絕緣電阻表操作方法：

1．開(kāi)關(guān)機(jī)

按POWER鍵實(shí)現(xiàn)開(kāi)關(guān)機(jī)。開(kāi)機(jī)后有下角顯示“APO"，不操作時(shí)15分鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)。

2．電池電壓檢查

開(kāi)機(jī)后，如果LCD顯示電池電壓低符號(hào)“     "，表示電池電量不足，請(qǐng)及時(shí)充電。電池電力充足才能保證測(cè)量的精度。

3．直流電壓測(cè)試

輸入儀表直流電壓不能超過(guò)1000V。

測(cè)量時(shí)按一下按鍵切換到直流電壓測(cè)試模式，將綠表筆與V端端子相連，黑表筆與COM相連，LCD顯示實(shí)時(shí)直流電壓值。

交流電壓測(cè)試

輸入儀表交流電壓不能超過(guò)750V。

測(cè)量時(shí)按一下按鍵切換到交流電壓測(cè)試模式，將綠筆與V端端子相連，黑表筆與COM相連，LCD顯示實(shí)時(shí)交流電壓值。

5．絕緣電阻測(cè)試

 絕緣電阻測(cè)試只能在不帶電的電路上進(jìn)行，數(shù)字絕緣電阻表測(cè)試前請(qǐng)檢查測(cè)試線(xiàn)路導(dǎo)線(xiàn)是否完好，及被測(cè)電路是否帶電，線(xiàn)路帶電可能會(huì)損壞儀表并且影響測(cè)量精度。

  必須戴上高壓絕緣手套操作。

絕緣電阻量程時(shí)，按測(cè)試開(kāi)關(guān)后測(cè)試線(xiàn)頭部和被測(cè)回路中產(chǎn)生高壓，請(qǐng)注意避免觸摸。

請(qǐng)務(wù)必將接地線(xiàn)（黑色）連接被測(cè)回路的接地端口。

測(cè)試以后請(qǐng)勿立刻觸摸電路。存儲(chǔ)的電荷可能導(dǎo)致觸電事故。 

請(qǐng)勿立刻取下測(cè)試線(xiàn)，必須等放電完成后再碰觸被測(cè)回路。 

為了保證測(cè)量精度測(cè)試時(shí)不要把測(cè)試線(xiàn)纏繞在一起。

保證絕緣電阻精度的溫濕度值

絕緣電阻范圍

保證絕緣電阻精度的濕度值

保證絕緣電阻精度的溫度值

 0Ω-100MΩ

<85% RH(無(wú)凝露)

23℃±5℃

101MΩ-20GΩ  

<75% RH(無(wú)凝露)  

21GΩ-1000GΩ

<65% RH(無(wú)凝露)

絕緣電阻測(cè)試只能在不帶電的電路上進(jìn)行，測(cè)試前應(yīng)檢查測(cè)試導(dǎo)線(xiàn)是否良好，確認(rèn)被測(cè)回路是否帶電。

按鍵切換到檔，然后按100V或250V或500V或1KV或2.5KV或5KV鍵選擇要過(guò)行測(cè)試的電壓值。 

接地線(xiàn)(黑)一端連接儀表連接EARTH端另一端連接被測(cè)回路接地端。高壓棒測(cè)試線(xiàn)(紅)一端連接儀表LINE端另一端頭部接觸被測(cè)電路，如果測(cè)試有綠色分線(xiàn)為屏蔽線(xiàn)，測(cè)試時(shí)連接GUARD端口精度更佳，如果配套測(cè)試線(xiàn)不帶此線(xiàn)就不需要接，如圖，按下TEST測(cè)試鍵(測(cè)試時(shí)儀表會(huì)發(fā)出間歇性蜂鳴：“滴~滴~滴..."的提示聲)。LCD 顯示測(cè)量值。測(cè)量后顯示值固定不變后讀取絕緣電阻值。 

GUARD保護(hù)線(xiàn)的使用 

測(cè)量電纜的絕緣電阻時(shí)，覆蓋表面的泄漏電流通過(guò)絕緣體內(nèi)部與電流匯合，造成絕緣電阻值誤差的產(chǎn)生。為避免此種現(xiàn)象的發(fā)生，如下圖所示，使用保護(hù)線(xiàn)（任何導(dǎo)電性裸線(xiàn)）將泄漏電流流經(jīng)部分卷起來(lái)，連接到保護(hù)端口后，泄漏電流不流過(guò)指示計(jì)，可準(zhǔn)確測(cè)量絕緣體的絕緣電阻。請(qǐng)使用附件的保護(hù)測(cè)試線(xiàn)連接保護(hù)端口。 

7．極化指數(shù)（PI）和吸收比(DAR)

7.1極化指數(shù)（PI）和吸收比（DAR）作用：

極化指數(shù)（PI）和吸收比（DAR）是檢查絕緣體的泄漏電流的時(shí)間是否增加的試驗(yàn)。確認(rèn)施加時(shí)間的同時(shí)泄漏電流沒(méi)有增加。儀表自動(dòng)計(jì)算極化指數(shù)PI和吸收比DAR值，作為判斷絕緣性能的依據(jù)，極化指數(shù)PI和吸收比DAR都表示被測(cè)物承受測(cè)量電壓后一段時(shí)間內(nèi)絕緣電阻的變化情況。

7.2極化指數(shù)（PI）和吸收比（DAR）區(qū)別：

對(duì)于一般的絕緣體測(cè)試，如外殼絕緣、工具手柄等一般在較短時(shí)間能測(cè)試出隨施加電壓時(shí)間增加漏電流是否增加情況，所以一般用較短時(shí)間的試驗(yàn)就能測(cè)試出來(lái)，數(shù)字絕緣電阻表短時(shí)間測(cè)試的絕緣電阻比值DAR稱(chēng)為吸收比（具體測(cè)試時(shí)間見(jiàn)下面公式），但對(duì)于大容量和吸收過(guò)程較長(zhǎng)的被測(cè)品，如變壓器、發(fā)電機(jī)、電纜、電容器等電氣設(shè)備，有時(shí)吸收比值（DAR）尚不足以反映吸收的全過(guò)程，可采用較長(zhǎng)時(shí)間的絕緣電阻比值，即10分鐘時(shí)的絕緣電阻(R10min)與l分鐘時(shí)的絕緣電阻(R1min)的比值PI來(lái)描述絕緣吸收的全過(guò)程，PI稱(chēng)為極化指數(shù)